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产品信息
SFT9100X射线荧光厚度测理仪选用Mo靶材X射线管，测量贵金属更灵敏。标准配备有WindowsXP中文操作界面。采用检量线法和FP法，两个准直器可自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴*冲撞传感器，可*在对焦时造成一起的损坏。可适用于各种样品，从较厚的样品（机械*部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等
主要特点
★搭载样品尺寸的兼容性，能够通过一台仪器测量，从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样品
★具有焦点距离切换功能，适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量
★彩色CCD摄像头，通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。
★卤素灯照明
★搭载了电动Ｘ－Ｙ移动平台
技术参数
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型号 |
SFT |
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仪器的* |
*合*位的机种 |
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可测量元素 |
原子序号22(Ti)~ 83(Bi) |
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X射线源 |
小型空气冷却型X射线管球 管电压：45kV 管电流：1mA |
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滤波器 |
滤波器：Mo固定 二次滤波器：Co滤波器 |
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照射方式 |
上方垂直照射方式 |
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检测器 |
比例计数管 |
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仪器校正 |
自动校正 |
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准直器(标准配置) |
○型(Φ □型(25×300μm) |
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*性能 |
样品室门锁，样品*冲撞功能 |
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样品图像对焦 |
有（激光对焦） |
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样品观察 |
CCD摄像头固定倍率、卤素灯照明 |
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焦点切换功能 |
选项10/50mm |
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X-ray Station |
台式电脑 (OS;MS-Windows XP®) |
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打印 |
喷墨打印机 |
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应用 |
单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、化学镍 |
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软件 |
薄膜FP法软件、电镀液分析 块体FP法、能谱搜索软件 |
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测量功能 |
能通过手动(1个点)决定测量的位置 |
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修正功能 |
基材修正、已知样品修正、人工输入修正 |
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统计处理功能 |
MS-EXCEL® |
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制作功能 |
MS-WORD® |
应用领域：
1.分析电子部品电镀层的厚度
2.各类五金电镀件的镀层厚度管控分析
3.各镀层的成分比例分析